如何用逻辑测试法判断TTL芯片的好坏

李  莉
1992-05-15

        微机的电路中有大量的TTL芯片，微机中大的功能芯片很少损坏，其故障几乎都发生在TTL电路上，而这种故障又十分明显地表现在芯片的输入/输出对应关系出错上。
        对这类故障的检测可以用逻辑笔或示波器直接检查芯片的输入/输出之间的对应关系，观察其是否与手册上的逻辑真值表相对应。
        例如：判断电路中反相器74LSO4的好坏时，若查得引脚1为高，则引脚 2就应为低，否则，此芯片可能已损坏；若查得引肢1为脉冲信号，引脚2也应为脉冲信号，且脉冲频率应一致，若此时引脚2不是脉冲信号或其频率偏高偏低，则此芯片可能已损坏了。
        应用此方法判断逻辑关系为非、与、或的TTL芯片的好坏时，非常快捷有效。对一些逻辑关系更为复杂的TTL芯片的判断，此方法也不失为一种较为有效的检测手段。
 
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